InfinityXF™ 探针简介 – 重新定义晶圆级宽带测试

该探针是FormFactor与是德科技合作开发的，使用坚固耐用的 0.5 mm 同轴连接器，可与 PNA-X 系统和新型 250 GHz 同轴频率扩展模块无缝协作。

随着半导体器件不断向更高频率和更紧密集成发展，晶圆级测试也必须跟上步伐。从事 6G、高速互连、采用先进调制方案的数字高带宽通信系统以及下一代无线系统工作的工程师们，需要在以往难以企及的频率下实现精度、速度和可重复性。

这就是为什么 FormFactor 推出了 InfinityXF™ 探针，这是一种新型同轴晶圆探针，能够在单次扫描中实现从直流到 250GHz 的宽带性能。

InfinityXF 基于久经考验的 Infinity 平台打造，将带宽扩展至 250 GHz，无需使用多个频率扩展器或复杂的校准步骤。该探头由 InfinityXF 与是德科技合作开发，可与 PNA-X 系统以及新的 250 GHz 同轴频率扩展模块无缝配合，采用坚固耐用的 0.5 毫米同轴连接器。

这种方法简化了晶圆测试流程，消除了同轴探头和波导探头的混合使用，并缩短了设置时间。结果是：测量速度更快、重复性更一致、S 参数数据的不确定性更低。

                    Infinity XF™ 探针 dual probe, supporting both GSGSG and GSSG configurations.

InfinityXF 的主要特点包括：

• 高达 250GHz 的单次扫描范围，精度无与伦比。

• 灵活配置——提供 GSG、GSGSG 和 GSSG 风格，支持 50 微米至 150 微米的间距。初始提供 50、75、100 微米，更多规格即将推出。

• 超紧凑机身——可直接与是德科技 NA5307A 对接，减少插入损耗，同时保持出色的回波损耗。

• 清晰的尖端可见性——便于精确、一致地放置尖端，节省设置时间并减少错误。

• 耐用的铑尖端——提供稳定、低电阻的接触，适合长期使用。

• 宽温度范围——在 -40°C 至 +175°C 范围内可靠运行，并与 FormFactor 的 EMI 屏蔽 TopHat 外壳和用于过温测量的开放式环境 IceShield™ 兼容。

• 适合自动化——与FormFactor 的自主射频测量助手配合使用，实现全天候无人值守测试，并自动校准。

Great tip visibility enables precise, repeatable tip placement.

InfinityXF 适用于多种使用场景，包括：

• 宽带建模与器件表征

• 高速数字通信，如 PAM4 448Gb 调制和 PCIe Gen6

• 负载牵引与噪声表征

• Multi-Gbps系统和 TIA 测试

• 谐波与频谱纯度的测量

它与 EVOLVITY™ 300、CM300xi 和 SUMMIT200 探头系统完全兼容，因此既适用于研发环节，也适用于生产环节，是一款极具灵活性的解决方案。

通过将同轴单扫频宽探测技术扩展至 250GHz，InfinityXF 为工程师们提供了他们所需的精度和可靠性，从而能够突破先进设计的极限。无论您是在验证下一代无线系统，还是在确保超高速数字链路的信号完整性方面，InfinityXF 都能帮助您加快速度并更有信心地完成工作。

欲获取更多信息，请下载《InfinityXF 数据表》。

它与 EVOLVITY™ 300、CM300xi 和 SUMMIT200 探头系统完全兼容，因此既适用于研发环节，也适用于生产环节，是一款极具灵活性的解决方案。

通过将同轴单扫频宽探测技术扩展至 250GHz，InfinityXF 为工程师们提供了他们所需的精度和可靠性，从而能够突破先进设计的极限。无论您是在验证下一代无线系统，还是在确保超高速数字链路的信号完整性方面，InfinityXF 都能帮助您加快速度并更有信心地完成工作。

相关探针测试系统实例：

                                                     CM300xi                                                                                                                                      SUMMIT200   

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