FormFactor/Cascade MPS150-SiPh_硅光子学手动探针台

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产品简介

入门级手动探针台，用于表面耦合和水平边缘耦合。

FormFactor推出了一种具有成本效益的硅光子测量解决方案，以支持新兴应用的基础研究工作。该系统的设计是FormFactor多年开发自动光子测量系统的经验 - 现在根据大学和其他入门级用户的需求量身定制。

MPS150-SiPh 可确保光纤精确对准，从而在不发生物理接触的情况下将光耦合到设备中。MPS150-SiPh 采用直观的设计，是经验不足的用户发现光子学并获得最高精度测试结果的完美解决方案。


产品特性





1. 镜面技术

  • 独特的 DUT 支架可实现高精度水平观察

  • CalVue 和 DieVue 使用户能够调整光学探头以实现最佳测量性能

  • 允许单根光纤和光纤阵列的表面耦合和水平边缘耦合

倾斜底座定位器

2.倾斜底座定位器


  • 手动或自动调整 6 个自由度的入射角

  • 利用标准光纤支架

       MPS150-SiPh 探头系统 - 光学性能


3.光学性能


  • 系统可以配备FormFactor革命性的eVue数字成像系统或高性能SlimVue显微镜

  • eVue 的革命性设计在光学分辨率、数字变焦和实时动态视频之间实现了完美平衡。该系统能够比以往任何时候都更快、更智能地导航、观察和测量设备。

  • SlimVue™显微镜减轻了光子学集成电路（PIC）上小焊盘探测所需的高放大倍率光学元件的机械干扰。

  • 该系统使用户能够比以往更快、更智能地导航、观察和测量设备

  • Spectrum 软件允许用户测量 z 位移


MPS150-SiPh 模块化解决方案

4.模块化解决方案

  • 如果用户的测量要求发生变化，可以很容易地更换探针硬件

  • 提供最大的测量灵活性：压板扩展可配置为执行 3 端口光子学和/或电气测量

  • 可以配置自动定位器以获得更快的测量结果。



MPS150-SiPh 探头系统


5.易用性

  • 符合人体工程学的简单设计，操作舒适轻松

  • 直观的操作工作流程使所有经验水平的测量都尽可能简单

  • 通过拉出式平台快速且符合人体工程学地更换 DUT

                                         

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