产品简介

4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。

4200A-SCS 可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。

4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括   MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。

产品特性

• 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数

• 无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

• 用户可配置低电流功能

• 个性化输出通道名称

• 查看实时测试状态

产品应用

• 半导体可靠性

• 高阻抗应用的 C-V 测量

• VCSEL 测试

• 纳米级设备检定

• 材料电阻率

• MOSFET 检定

规格参数