DCP 100系列探针

• 具有低噪声电气性能的高质量结构

• 用于实现简便的四点测量的开尔文 (Kelvin) 版本

• 可替换的同轴探针针尖 ，可以选择针尖的半径，并对探针针尖提供了全面的电气防护

• SSMC 50 连接器

• 超低、fA 和 fF 测量（-65 º C 至 150 º C）

DCP-HTR系列探针

• 超低、fA 级别电流和 fF 级别电容测量（-65 °C 至 + 300 °C）

• 保证提供受到全面保护的测量（至 fA 和 fF 级别）

• 单独的连接器为准开尔文 (Kelvin) 和 CV 测量提供了加压感测连接

• 可探查不同材料和尺寸的焊盘

• 可快速更换磨损的探针，无需借助工具

高电流探针

• 实现了高达 60A 脉冲 / 10A DC 的晶圆探查

• 创新的多指尖设计提供了电流的均匀分配

• 支持高达 500V 的电压

• 可替换的钨探针针尖

• 温度范围：-55ºC 至 300ºC

• 焊盘-针尖结点上的极小接触电阻用以减少测量期间的发热，且针测印迹较少

• 可防止发生热失控

• 能够在高于以往的电流条件下完成晶圆上器件测量

• 少量的磨砂最大限度地减少了对铝焊盘的损坏

• 小的占位面积 —— 针尖适合 1mm 焊盘

高压探针

• 高达 3000 V 的同轴和三轴测量

• 具有低噪声电气性能的高质量结构

• 可替换的探针针尖（多种针尖尺寸）

• 温度范围：-55ºC 至 300ºC

• 三轴测量可确保对关断状态下的器件漏电情况有更好的了解

• 高度可靠、稳定和可重复的测量

• 作为完整测量解决方案的一部分进行了整体设计

超高功率探针

（UHP）

• 利用单次降落探查实现了高达 10000 V 和 300 A 脉冲（在并行配置中为 600 A）的同轴测量

• 运用创新的多指尖设计实现了高电流的均匀分配

• 可兼容 Tesla 200/300 mm 功率器件特性分析系统

• 通过单次降落探查对高电压和高电流情况进行测试减少了测量时间

• 可针对众多的焊盘尺寸和测试电流进行准确的特性分析，对焊盘的损伤微乎其微，接触电阻也极小

• 可在宽温度范围内（-55°C 至 +300°C）提供安全、可靠和可重复的高电流 / 电压测量

DC-Q探针

电源旁路电感：8 nH

标准的 DCQ 探针具有平头尖端针，材料为镀镍钨或陂青铜 (BeCu)，直径为 0.75 mil、1.0 mil 和 1.5 mil。

支持共线和非标准针配置

多达 16 个 DC 针（标准配置）；最多 24 个 DC 针（定制配置）

非常适合对整个电路进行探查以完成功能测试

DC 探针能够向被测试电路提供电源或慢逻辑

Eye-Pass

探针

高性能电源旁路提供了低阻抗和无谐振的连接（至 20 GHz）

RF 带宽至 500 MHz

长久的探针寿命：> 25 万次接触探查

陂青铜针尖（用于金焊盘）或钨针尖（用于铝焊盘）

宽带宽模拟电路的无振荡测试

与 ACP 系列探针一起使用，以为已知合格裸片提供功能性全速测试

混合多种触点类型：接地、电源（标准或 Eye-Pass）、逻辑 / 信号

在铝焊盘上具有低且可重复的接触电阻（在 Al 焊盘上 < 25 Ω，在 Au 焊盘上 < 0.01 Ω）

WPH探针

全半径、镀镍钨针

电源旁路电感：16 nH

支持共线和非标准针配置

支持多达 12 个陶瓷刀片 DC 针 / 触点

非常适合对整个电路进行探查以完成功能测试

DC 探针能够向被测试电路提供电源或慢逻辑