THz在片测试系统

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产品简介

THz在片测试系统是为太赫兹频率晶圆级校准和测量提供的解决方案。用于解决测量仪器的选择、频繁的系统重新设置问题、影响校准的准确性和可重复性的操作技巧和计量分析测试数据的需求。测试频率高达500GHz。


典型配置

信号源

频谱仪

矢量网络分析仪

THz扩频模块

探针台测试系统

Infinity 探针(测试频率40GHz-500GHz)


产品应用

晶圆级器件分析:

信号分析

频谱分析

S参数分析

功率检测


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