产品简介

在多种温度条件下实现 “无人值守式”测试的高精度探针系统。对于众多的应用，可在 EMI 屏蔽、闭光和干燥的测试环境以及 -60°C 至 300°C 的温度范围内实现卓越的测量性能。

产品特性

可针对 DC、RF、mmW、FA、WLR 等进行重新配置

适用于小型和大型多站点探针卡的完整解决方案

可在宽温度范围内提供稳定和可重复的测量

快速、安全和轻松的晶圆接触

快速设置和测试数据收集

多种温度下的无人值守测试

增强型光学可视化、快速设置、以及晶片内和晶圆导航功能

自动晶片尺寸测量和晶圆对准

实现了快速子晶片导航

产品应用

IV/CV，RF/mmW，失效分析，WLR，MEMS

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