信赛赛思致力于提供系统级一站式在片测试解决方案，为电源管理芯片测试提供全方位支持。

电源管理芯片（Power Management Integrated Circuits，简称 PMIC）是电子设备系统中对电能进行变换、分配、检测及其他管理任务的关键组件。它们负责将电源电压和电流转换为微处理器、传感器等设备可以使用的形式。电源管理芯片的分类包括 AC/DC（交流转直流）、DC/DC（直流转直流）、驱动 IC、保护芯片、LDO（低压差线性稳压器）、负载开关、PMIC 等。

电源管理芯片的应用非常广泛，它们在手机与通讯、消费类电子、工业控制、医疗仪器、汽车电子等多个领域都有重要的作用。随着物联网、新能源、人工智能等新兴领域的快速发展，电源管理芯片的需求也在不断增长。随着电源管理芯片在系统中的使用量逐渐增加，测试环节由封装成品逐渐向前端晶圆级转移，对晶圆的在片测试提出了新的挑战。高功率、低漏电流、高低温、自动化无人值守等如何高效稳定的实现，信赛赛思可提供完整的解决方案。

高功率测试能力

新型的 Tesla 功率半导体测试系统可提供高达 3 kV（三轴）/10 kV（同轴）和 200A（标准）/600A（高电流）的测试能力。凭借下一代测试能力、防电弧解决方案、晶圆自动化以及对工程探针和 T.I.P.S.“LuPo”高压 / 高功率探针卡的支持，TESLA 现在能够实现完整的高低温测试（-55℃至300℃），并实现全自动薄片 / 翘曲 /TAIKO 晶圆加载。一个系统涵盖了从研发到利基生产的所有晶圆上高功率测试需求。

高低温测试能力

所 有 FormFactor 晶圆探针台都与 ATT 独家开发的非热卡盘或高度可靠的热卡盘系统完全集成。根据客户的应用、温度范围和性能要求，信赛赛思可提供从 -60℃到 300℃的各种热系统，涵盖从市场上最强大、最快的高性能系统到最佳性价比的极其经济的系统。信赛赛思所有的系统都是镀镍或镀金的，可保证卓越的电 气 性 能。 并 且 获 得 专 利 的MicroVac™ 和 FemtoGuard™ 技术提供了先进的测量精度和超低的晶圆接触电阻，即使是翘曲 / 薄晶圆也是如此。模块化概念可实现方便且经济高效的系统升级，提供最高的投资安全性和易于定制。全范围：-60℃ to 300℃；经济型：-40℃ to 300℃； 常 高 温：+20℃ /+30℃ to 300℃。

低漏电流测试能力

DCP-HTR 探针可提供从 -65℃ 到 300℃ 的 fA 水平测量能力，用于高级表征和可靠性测试。其独特的设计提供了卓越的防护和屏蔽性能，克服了标准同轴针的高温性能限制。当在带有 Micro Chamber 的探针台上使用时，DCP-HTR 允许充分利用半导体参数测试仪器。可选的小直径探针头是小到 30×30μm 的 Pad 的理想选择。新一代系统支持 PureLine™ 技术，可实现市场上最低的噪音水平之一。获得专利的 AttoGuard^® 和 MicroChamber^® 技术显著改善了低泄漏和低电容测量。

自动化测试能力

使用 FormFactor 的 Contact Intelligence，操作员可以在整个轮班期间、夜间甚至周末开始测试并离开系统进行测量，而无需任何用户干预。探针经过动态校正，可高精度的实时定位 Pad，以补偿温度变化时探针或器件的任何热膨胀。Contact Intelligence 模块使用电动探针定位器实现全天候免提操作，实现小焊盘触地优化、在多种不同温度下的自动测试，结合全自动探针台一次可以放置两个 Cassette 共计50 片晶圆，可以在更短的时间内测试更多的产品，对直流测量的可信度更高，从而获得更准确的数据，实现更快的上市时间。

（来源：成都信赛赛思科技有限公司）

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